Page 1 of 1

【已解决】无法进入产测模式

Posted: 2023年 Dec 18日 14:53
by clcl

问一下,这个产测模式为什么进不去?

使用 Zigbee Dongle 设置 Beacon 模式,信道 15,设置好之后,抓包显示有报文

Image

但是程序却没反应,没有进入:tal_beacon_mf_test_callback 这个函数,重启程序也没用

我的产品信息如下:

Code: Select all

#define MANUFACTURER_ID            0x1002
#define IMAGE_TYPE                      0x1602
#define MODEL_ID                        "TS0601"
#define PID_ID_PFEFIX                  "_TZ3210_"
#define MODULE_NAME                 "ZSU"
#define DEV_ROLE                        "sleep_end_dev"
#define CHIP_ID                         "efr32mg21a020f1024im32"

SDK 信息

Dev Framework:

  • Type Dev Kit: Sub-Device Development:Zigbee Device Development Kit
  • Description: TuyaOS zigbee SDK based on EFR32MG21A020 platform.
  • TuyaOS Version: TuyaOS-3.6.1
  • Component Dev Kit(s): tuyaos-subdev-zg_1.0.8_efr32_zigbee_zigbee-com_0.0.17

Re: 【求助】无法进入产测模式

Posted: 2023年 Dec 18日 15:08
by zeso

您好,请确认一下:
1,是否有调用tal_mf_test_disable_beacon_test接口,这个接口会导致无法进入beacon产测;
2,是否进行过配网操作,SDK配网15min之后关闭产测通道。


Re: 【求助】无法进入产测模式

Posted: 2023年 Dec 18日 16:41
by clcl

tal_mf_test_disable_beacon_test 这个我注释掉了

Code: Select all

OPERATE_RET tuya_init_first(VOID_T)
{
    uint32_t rst_reason = RMU_ResetCauseGet();
    TAL_PR_DEBUG("RMU_ResetCauseGet -> %08x\n", rst_reason);

app_debug_uart_init();
//tal_log_create_manage_and_init(TAL_LOG_LEVEL_TRACE, 128, app_uart_output);

//tal_mf_test_disable_beacon_test();

TAL_PR_DEBUG("/*********first init*********/\r\n");

return OPRT_OK;
}

设备立即重启了,也不行


Re: 【求助】无法进入产测模式

Posted: 2023年 Dec 18日 16:47
by zeso

beacon dongle的信道设置为11,再测试下。


Re: 【求助】无法进入产测模式

Posted: 2023年 Dec 18日 17:02
by clcl

不行

用 demo 程序 tuyaos_demo_zg_door_sensor 跑,也不行,没有打印

tal_mf_test_disable_beacon_test 已经注释了


Re: 【求助】无法进入产测模式

Posted: 2023年 Dec 18日 17:05
by clcl

如果配过网的设备,清除配网后,还能进产测吗?


Re: 【求助】无法进入产测模式

Posted: 2023年 Dec 19日 18:23
by zeso

重新烧录授权试一下,确保:
1.没有配网;
2.没有调用tal_mf_test_disable_beacon_tes接口;
3.dongle信道为11,模式显示为BC;


Re: 【求助】无法进入产测模式

Posted: 2023年 Dec 20日 14:26
by clcl

全片擦除后,再烧录就 OK 了,应该已经配过网的原因