【已解决】无法进入产测模式

[clcl]

问一下，这个产测模式为什么进不去？

使用 Zigbee Dongle 设置 Beacon 模式，信道 15，设置好之后，抓包显示有报文

但是程序却没反应，没有进入：tal_beacon_mf_test_callback 这个函数，重启程序也没用

我的产品信息如下：

Code: Select all

#define MANUFACTURER_ID            0x1002
#define IMAGE_TYPE                      0x1602
#define MODEL_ID                        "TS0601"
#define PID_ID_PFEFIX                  "_TZ3210_"
#define MODULE_NAME                 "ZSU"
#define DEV_ROLE                        "sleep_end_dev"
#define CHIP_ID                         "efr32mg21a020f1024im32"

SDK 信息

Dev Framework:

• Type Dev Kit: Sub-Device Development:Zigbee Device Development Kit
• Description: TuyaOS zigbee SDK based on EFR32MG21A020 platform.
• TuyaOS Version: TuyaOS-3.6.1
• Component Dev Kit(s): tuyaos-subdev-zg_1.0.8_efr32_zigbee_zigbee-com_0.0.17

[zeso]

您好，请确认一下：
1，是否有调用tal_mf_test_disable_beacon_test接口，这个接口会导致无法进入beacon产测；
2，是否进行过配网操作，SDK配网15min之后关闭产测通道。

[clcl]

tal_mf_test_disable_beacon_test 这个我注释掉了

Code: Select all

OPERATE_RET tuya_init_first(VOID_T)
{
    uint32_t rst_reason = RMU_ResetCauseGet();
    TAL_PR_DEBUG("RMU_ResetCauseGet -> %08x\n", rst_reason);

app_debug_uart_init();
//tal_log_create_manage_and_init(TAL_LOG_LEVEL_TRACE, 128, app_uart_output);

//tal_mf_test_disable_beacon_test();

TAL_PR_DEBUG("/*********first init*********/\r\n");

return OPRT_OK;
}

设备立即重启了，也不行

[zeso]

beacon dongle的信道设置为11，再测试下。

[clcl]

不行

用 demo 程序 tuyaos_demo_zg_door_sensor 跑，也不行，没有打印

tal_mf_test_disable_beacon_test 已经注释了

[clcl]

如果配过网的设备，清除配网后，还能进产测吗？

[zeso]

重新烧录授权试一下，确保：
1.没有配网;
2.没有调用tal_mf_test_disable_beacon_tes接口；
3.dongle信道为11，模式显示为BC；

[clcl]

全片擦除后，再烧录就 OK 了，应该已经配过网的原因